
簡要描述:隨著微處理器的技術發(fā)展,超聲波無損檢測方法已獲得了行業(yè)認可,其中超聲波測厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應用,而超聲波硬度計也在國外普及。
產(chǎn)品型號:LAB-H1
廠商性質:生產(chǎn)廠家
更新時間:2024-11-14
訪  問  量:2325
|              測試范圍             洛氏硬度, HRC             布氏硬度, HB             維氏硬度, HV             抗拉強度, MPa              |                          20 - 70             90 - 450             230 - 940             370 - 1740              |         
|              誤差范圍             洛氏硬度, HRC             布氏硬度, HB             維氏硬度, HV              |                          ± 1             ± 3%             ± 3%              |         
|              外形尺寸, mm               |                          122x65 x24              |         
|               操作溫度° C               |                          -5至+40              |         
|              電源              |                          2節(jié)AA電池              |         
|              持續(xù)工作時間, 不少于              |                          100小時              |         
|               主機重量, kg               |                          0.9千克              |         
|              名稱型號              |                          產(chǎn)品描述              |         
|              超聲波硬度計 LAB-H1              |                          標配進口超聲波探頭一支              |         
|              復合式硬度計 LAB-H2              |                          標配進口超聲波和里氏兩種探頭              |         
|              里氏硬度計   LAB-H3              |                          標配進口里氏探頭一支              |         
|              測試裝置              |                          超聲波探頭              |                          里氏探頭              |         
|              長度:              |                          160mm              |                          140mm              |         
|              直徑              |                          25mm              |                          25mm              |         
|              壓痕深度              |                          30μm              |                          300 μm              |         
|              壓力              |                          14.7N              |                          11Nm              |         
|              傳感器測試壽命             (大約)  |                          200,000              |                          50,000              |         
|              zui小測試厚度             (鋼)  |                          1mm              |                          12mm              |         
|              zui小測試半徑              |                          5mm              |                          10mm              |         
|              zui大表面粗糙度              |                          Ra 2.5 μm              |                          Ra 3.2 μm              |         
|              數(shù)據(jù)存儲              |                          1000個測試值              |                          100個測試值              |         
|              測試時間              |                          4秒              |                          2秒              |